Open Positions
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¡¤ Position | SiC / GaN FA | ||
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¡¤ Classification | Àü±â/ÀüÀÚ/¹ÝµµÃ¼R&D | ¡¤ Status | ![]() |
[Á÷¹«¸í] - SiC / GaN FA [´ã´ç¾÷¹«] - Wide band gap power device (GaN/SiC) failure analysis . Wafer/PKG/½Å·Ú¼º Æò°¡ fail Á¦Ç° Defect analysis [Çʼö¿ä°Ç] - Power Á¦Ç°°³¹ß °æ·Â ¸¸ 4³â ÀÌ»ó(¼®»ç), ¸¸ 6³â ÀÌ»ó(Çлç) . WBG Àü·Â¼ÒÀÚ FA ÁøÇà ¹× °á°ú ºÐ¼® . WBG device Wafer/PKG Æò°¡ °æÇè [¿ì´ë ¿ä°Ç] - WBG ¼ÒÀÚ ½Å·Ú¼º ºÐ¼® ¹× lifetime ¿¹Ãø °æÇè - SiC/GaN device ±¸Á¶ ¹× °øÁ¤ ÀÌÇØ [±Ù¹«¿©°Ç] - ±Ù¹«Áö : ÃæºÏ À½¼º - ±Þ¿© : ¸éÁ¢ ÈÄ ÇùÀÇ [ä¿ëÀýÂ÷] - ¼·ùÀüÇü(¸¶°¨ ÈÄ 2ÁÖ À̳») ¡æ ¸éÁ¢ ÀüÇü(Á÷¹« ¹× Á¶Á÷ÀûÇÕµµ Á¾ÇÕÆò°¡) ¡æ ÀÔ»çÀÏ ¹× ó¿ìÇùÀÇ ¡æ ÀÔ»ç [Áö¿ø¼¾ç½Ä] ÀÚÀ¯¾ç½Ä * ±âŸ»çÇ× - ±¹°¡º¸ÈÆ´ë»óÀÚ ¹× Àå¾ÖÀÎÀº °ü°è¹ý¿¡ ÀǰÅÇÏ¿© ¿ì´ëÇÕ´Ï´Ù. - °æ·Â/ÇзÂÁõ¸í¼/ÀÚ°ÝÁõ »çº» µî »ç½Ç°ú ´Ù¸¦ °æ¿ì ÇÕ°Ý(ÀÔ»ç) Ãë¼Ò µË´Ï´Ù. - ¸éÁ¢ ÀÏÁ¤Àº ¼·ù ÇÕ°ÝÀÚ¿¡ ÇÑÇØ °³º°¾È³»ÇØ µå¸³´Ï´Ù. * ´ã´çÀÚ ¹× ¿¬¶ôó: ¹Ú°æÈ£ Àü¹« / 010 5413 7097 / dosarao@huntersgroup.co.kr |
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